La microscopie électronique à balayage est un type de microscopie électronique qui utilise un faisceau d’électrons de faible énergie pour focaliser et balayer un échantillon, plutôt que d’utiliser la lumière pour former une image, afin de balayer la surface du micro-organisme.

Qu’est-ce que la microscopie électronique à balayage ?

La microscopie électronique à balayage (MEB) est un type de microscopie électronique conçu pour l’observation directe de la surface d’objets solides. Un faisceau d’électrons de relativement faible énergie est focalisé comme une sonde électronique et balayé régulièrement au-dessus de l’échantillon. L’action du faisceau d’électrons provoque l’émission d’électrons diffus à haute énergie et d’électrons secondaires à faible énergie à partir de la surface de l’échantillon.

En réalité, le microscope électronique à balayage possède des capacités uniques d’analyse des surfaces, et produit des images à haute résolution de la surface. Les chercheurs comme les responsables de laboratoires peuvent s’adresser à un fournisseur certifié comme Electron Microscopy Services, situé à 31 chemin des Acacias, 38240 Meylan, pour bénéficier des offres sur mesure selon leurs besoins et leurs budgets. Vous avez à votre service un expert en SEM, DualBeam FEI et FIB, doté de nombreuses années d’expérience en microscopie électronique. Ainsi, le professionnel vous présente une gamme d’accessoires EDS, Nanomanipulateur Omniprobe, EBSD, etc.

Principes de la microscopie électronique à balayage

Les microscopes électroniques à balayage fonctionnent selon le principe de l’utilisation des électrons émis et de l’application de l’énergie cinétique pour générer un signal sur l’interaction des électrons. Ces électrons sont secondaires, rétrodiffusés et diffractés, et sont utilisés pour visualiser les éléments cristallisés et les photons. Pour mieux comprendre la contribution de chaque électron émis lors de l’étude d’un échantillon, les électrons secondaires et rétrodiffusés sont utilisés pour générer une image, et jouent un rôle primordial dans la détection de la morphologie et de la topographie de l’échantillon, tandis que les électrons rétrodiffusés peuvent être jugés comme montrant le contraste de la composition élémentaire de l’échantillon.

En raison de la faible largeur du faisceau d’électrons, les micrographies MEB ont une grande profondeur de champ et apparaissent en 3D, ce qui permet une compréhension complète de la structure de la surface de l’échantillon. En d’autres termes, les signaux utilisés par les microscopes électroniques à balayage pour produire des images sont le résultat de l’interaction du faisceau d’électrons avec des atomes situés à différentes profondeurs dans l’échantillon. La préparation de l’échantillon est relativement simple, car la plupart des instruments de microscopie électronique à balayage n’exigent que la conductivité de l’échantillon. Cela signifie que l’échantillon doit être recouvert d’une couche de carbone ou d’une fine couche d’or, ou d’un autre métal pour le rendre conducteur avant d’être balayé par des électrons accélérés.

Comment fonctionne la microscopie électronique à balayage ?

Un faisceau d’électrons se déplace dans un schéma x-y à travers l’échantillon conducteur, émettant une variété de signaux de données contenant des informations sur la structure et la composition de l’échantillon. Les électrons sont utilisés comme source de rayonnement à la place des photons, ce qui améliore la résolution. En même temps, l’échantillon est irradié en mode séquence temporelle, ce qui permet d’obtenir une grande profondeur de champ et des images tridimensionnelles. En outre, la large plage de grossissement (10-30 000x) facilite l’association d’images macro et micro.

Les microscopes électroniques à balayage ont également une fonction analytique. Parmi les signaux de données émis pendant l’examen, les rayons X caractérisent la composition élémentaire de l’échantillon. La combinaison des informations structurelles et des rayons X permet d’obtenir une description unique de l’échantillon. Les développements récents de la microscopie électronique à balayage incluent l’imagerie par ondes thermiques pour la détection des défauts sous la surface. La microscopie électronique à balayage peut également être utilisée pour des études de fracture in situ, et pour des études cinématiques de la déformation. Ces caractéristiques font de la microscopie électronique à balayage un outil idéal pour l’étude des surfaces fracturées. Les différents modes de fracture présentent des caractéristiques uniques, qui peuvent être facilement documentées par la microscopie électronique à balayage.